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积极响应国家设备更新政策丨布鲁克电子显微分析仪器更新和升级指南
发布时间:2024-03-22]  阅读次数:71次

来源:分析测试百科网

近期,国家连续推出多项政策,科学仪器行业均受到了不同程度的拉动。3月1日,国务院常务会议审议通过《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》(后简称《行动方案》)。一时间在行业中又激起千层浪,将近期的政策利好推向了高潮。


作为优异的科学实验仪器制造厂商,布鲁克纳米分析部电子显微分析技术基于电子显微镜平台,提供可以实现纳米级尺度的材料分析及表征的先进技术和附件,不断扩展您的电镜平台功能宽度和尺度。





更新和升级选择方案




        适配于SEM和TEM的QUANTAX EDS        



布鲁克第七代能谱仪QUANTAX XFlash® 7具有卓越的能量分辨率、输出计数率和最优的结构设计,可提供30 至 100 mm²多种有效晶体面积供选择。并且真正的实现了所有部件均由工程师现场更换。对于EDS已有用户来说,更大的利好政策是,4-6代能谱仪提供Trade In服务包以实现到第七代能谱仪的全面升级!



        平插式能谱仪QUANTAX FLATQUAD       



SEM中40倍于常规能谱仪的采集效率,与TEM能谱相媲美的纳米级分辨率,针对表面起伏样品实现无阴影表征。




        QUANTAX WDS 平行光波谱仪        


QUANTAX WDS XSense波谱仪集非磁性无畸变的平行光学设计和全新的的探测器技术于一身,紧凑的WDS系统能够在低能端进行超灵敏的高分辨率谱峰分析。


       同轴TKD实现SEM最佳空间分辨率        

同轴TKD将EBSD的空间分辨率提升至优于2nm,尤其适合大变形和纳米晶材料!

纳米级金颗粒样品的原始取向图,放大区域为4~6nm的退火孪晶,图像比例尺为100nm。





        SEM上的QUANTAX Micro-XRF        


布鲁克第二代XTrace 2微区荧光光谱仪使用户以最小的成本,在SEM上使用微区XRF的全部功能,成功将SEM中元素分析的探测限提升至10ppm级别!


SEM的微区XRF元素面扫描分析采自南非Newlands的伯利岩中含金刚石的地幔榴辉岩样品。主要相为石榴石和单斜辉石,含少量硫化物和交代矿物。分析面积约为3 cm x 2 cm.



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