提出基于统计的盖层完整性评价指标筛选新方法 - 光谱网

首页/今日焦点/ 正文

2017 年 11 月 22 日（浏览量：408）

提出基于统计的盖层完整性评价指标筛选新方法

地址: 北京市海淀区新街口外大街19号北京师范大学分析测试中心

电话：010-58807981

邮箱： xiemx@bnu.edu.cn

工作时间：周一至周五 9:00 - 18:00

联系我们留言反馈广告服务新闻排行

京ICP备07018254号-16 Copyright sinospectroscopy，All rights reserved